公开/公告号CN103091512A
专利类型发明专利
公开/公告日2013-05-08
原文格式PDF
申请/专利权人 国家纳米技术与工程研究院;
申请/专利号CN201110340435.7
申请日2011-11-02
分类号G01Q60/34(20100101);
代理机构12212 天津天麓律师事务所;
代理人卢枫
地址 300457 天津市塘沽区经济技术开发区第四大街80号
入库时间 2024-02-19 18:48:14
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2015-06-17
发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01Q60/34 申请公布日:20130508 申请日:20111102
发明专利申请公布后的视为撤回
2013-05-08
公开
公开
机译: 一种用于测量样品激发荧光质的荧光的装置,其形式为滴液激发荧光质,其基本上平行地包含在两个表面铁砧之间的表面张力的作用下。测量样品激发荧光质的荧光的方法两个基本平行的超细砧座之间的表面张力所包含的纳米粒子的量和用于测量样品受到来自包括低于亚微米级的光源的光的样品的荧光光谱的方法该样品光谱的光源的光谱扩展进行测量以获得荧光光谱
机译: 一种制造亚微米级导电网格的方法以及亚微米级导电网格
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