一种EPON系统中对网络终端千兆以太网接口信号的测试方法

摘要

本发明公开了一种EPON系统中对网络终端千兆以太网接口信号的测试方法，其配置方法如下：步骤S1.将所述电脑和所述被测设备通过串口相连，将所述被测设备的被测接口和所述试验制具上的网线接口通过连接线相连，将所述示波器与所述试验制具上的差分对通过连接线相连；步骤S2.在电脑测试环境下，读取当前寄存器的数值；步骤S3.更改寄存器的数值，将读取到的寄存器的当前值转换为16位二进制数，并将其高三位设置成不同的数值，分别代表不同的测试模式；步骤S4.运行已经连接完成的各设备，在示波器上选择千兆以太网测试项目进行测试。通过本发明的测试方法，可以测试以太网端口兼容性和一致性，保证各种不同设备间良好互通。

说明书

技术领域

本发明涉及局域网络设备信号测试方法，尤其涉及一种EPON系统中对网络终端千兆以太网接口信号的测试方法。

背景技术

千兆以太网终端接口的编码方式PAM-5(五级脉冲振幅调制)，千兆以太网测试时要强制全双工并且关闭自动协商。由于千兆以太网的每对差分对都可以进行收发，在芯片内部进行混合、分离，所以用示波器测试信号时，不能像百兆以太网那样直接测试得到眼图，而是需要通过一些其他方法来进行测试。

发明内容

针对千兆以太网无法通过示波器直接得到直观的眼图信号的问题，本发明提供一种EPON系统中对网络终端千兆以太网接口信号的测试方法。

本发明解决技术问题所采用的技术方案为：

一种EPON系统中对网络终端千兆以太网接口信号的测试方法，基于一种测试系统实现，所述测试系统包括电脑、被测设备、示波器和试验制具，所述试验制具一端设有4个待测的差分对，另一端设有网线接口，所述试验制具设有差分对的一端与所述示波器连接，所述试验制具上设有网线接口的另一端与所述被测设备上的接口端连接，所述电脑的串口通过数据线与所述被测设备上串口连接；其中：

按如下配置方法测试接口信号：

步骤S1、将所述电脑和所述被测设备通过串口相连，将所述被测设备的被测接口和所述试验制具上的网线接口通过连接线相连，将所述示波器与所述试验制具上的差分对通过连接线相连；

步骤S2、在电脑测试环境下，读取当前被测设备物理层寄存器内的数值；

步骤S3、更改所述寄存器的数值，将读取到的寄存器的当前值转换为16位二进制数，并将所述16位二进制数的高三位设置成不同的数值，分别代表不同的测试模式，具体为：将高三位设置为001代表测试模式1，将高三位设置为010代表测试模式2，将高三位设置为011代表测试模式3，将高三位设置为100代表测试模式4，将修改后的16位二进制数转化为4位十六进制数，形成修改命令来配置物理层芯片，使物理层芯片工作在测试状态下；

步骤S4、运行已经连接完成的各设备，在所述示波器上选择千兆以太网测试项目进行测试。

所述EPON系统中对网络终端千兆以太网接口信号的测试方法，其中，所述测试模式1为发送信号波形测试；所述测试模式2为主机时钟的抖动测试；所述测试模式3为从机时钟的抖动测试；所述测试模式4为发送信号波形失真测试。

所述EPON系统中对网络终端千兆以太网接口信号的测试方法，其中，所述示波器为6GHz带宽示波器。

所述EPON系统中对网络终端千兆以太网接口信号的测试方法，其中，所述试验制具上设有的4个差分对上设有编号，所述被测设备的所有被测接口均需对所述的4个差分对进行一一测试。

上述技术方案具有如下优点或有益效果：

本发明方法通过修改待测设备中物理层寄存器内计数器的值，使得被测设备进行以太网信号完整性测试，通过测试可以提高以太网端口兼容性和一致性，保证各种不同设备间良好互通。

附图说明

图1是本发明一种以太网网络终端千兆以太网接口信号的测试方法所基于的测试系统结构框图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明，但不作为本发明的限定。

本发明一种以太网网络终端接口信号的测试方法，尤其适用于千兆以太网的网络终端接口测试方法。本发明通过更改被测设备中的物理层寄存器内相应计数器的值，从而改变物理层芯片的状态，使其工作在不同的测试模式下对被测设备进行测试。

如图1所示，本发明基于一种测试系统实现，测试系统包括通过试验制具将被测设备与示波器连接在一起，试验制具的一端设有4个待测的差分对，差分对通过连接线与示波器连接，其中，示波器为6GHz带宽示波器，试验制具的另一端设有RJ45网线接口，RJ45网线接口通过连接线与被测设备的接口端连接，被测设备上的串口通过数据线与电脑串口相连。

通过如下步骤完成本发明测试的配置：

步骤1：将待测设备、示波器、测试制具和电脑按上述连接方式连接；

步骤2：通过初始命令来获得物理层芯片寄存器9的初始值，具体为，在串口下输入命令sw port phyreg-get 0 0x09，其中0代表被测设备相应接口的编号，即被测接口0，0x09代表被测设备的寄存器9；

步骤3：通过如下步骤更改之前获得的物理层芯片寄存器9的初始值，得到修改后的数值：

1.假定读取到第0接口寄存器9的初始值为0xe00（十六进制数）；

2.通过运算将该十六进制数转换成16位二进制数，即为0000111000000000；

3.将其高三位对应数值进行修改，即物理层芯片寄存器9的第15、14、13位进行修改，其中，测试模式1对应的高三位数值为001，将之前的16位二进制数的高三位进行替换，即修改后的二进制数为0010111000000000；

4.将修改后的二进制数转换为4位十六进制数，即为0x2e00；

5.修改的命令为sw port phyreg-set 0 0x09 0x2e00；

步骤4：运行已经连接好的各设备，并在示波器上选择千兆以太网测试项目进行测试。

本发明的接口测试包括测试模式1：发送信号波形测试；测试模式2：主机时钟的抖动测试；测试模式3：从机时钟的抖动测试；测试模式4：发送信号波形失真测试。上述的步骤为测试模式1的配置方法，其余测试模式的测试配置方法为将上述的步骤3中的第3、4、5步进行修改，其具体的测试配置方法如下：

测试模式2(主机时钟的抖动测试)的配置方法：

步骤1：将待测设备、示波器、测试制具和电脑按上述连接方式连接；

步骤2：通过初始命令来获得物理层芯片寄存器9的初始值，具体为，在串口下输入命令sw port phyreg-get 0 0x09，其中0代表被测设备相应接口的编号，即被测接口0，0x09代表被测设备的寄存器9；

步骤3：通过如下步骤更改之前获得的物理层芯片寄存器9的初始值，得到修改后的数值：

1.假定读取到第0接口寄存器中寄存器9的初始值为0xe00（十六进制数）；

2.通过运算将该十六进制数转换成16位二进制数，即为0000111000000000；

3.将其高三位对应数值进行修改，即物理层芯片寄存器9的第15、14、13位进行修改，其中，测试模式2对应的高三位数值为010，将之前的16位二进制数的高三位进行替换，即修改后的二进制数为0100111000000000；

4.将修改后的二进制数转换为4位十六进制数，即为0x4e00；

5.修改的命令为sw port phyreg-set 0 0x09 0x4e00；

步骤4：运行已经连接好的各设备，并在示波器上选择千兆以太网测试项目进行测试。

测试模式3(从机时钟的抖动测试)的配置方法：

步骤1：将待测设备、示波器、测试制具和电脑按上述连接方式连接；

步骤2：通过初始命令来获得物理层芯片寄存器9的初始值，具体为，在串口下输入命令sw port phyreg-get 0 0x09，其中0代表被测设备相应接口的编号，即被测接口0，0x09代表被测设备的寄存器9；

步骤3：通过如下步骤更改之前获得的物理层芯片寄存器9的初始值，得到修改后的数值：

1.假定读取到第0接口寄存器9的初始值为0xe00（十六进制数）；

2.通过运算将该十六进制数转换成16位二进制数，即为0000111000000000；

3.将其高三位对应数值进行修改，即物理层芯片寄存器9的第15、14、13位进行修改，其中，测试模式3对应的高三位数值为011，将之前的16位二进制数的高三位进行替换，即修改后的二进制数为0110111000000000；

4.将修改后的二进制数转换为4位十六进制数，即为0x6e00；

5.修改的命令为sw port phyreg-set 0 0x09 0x6e00；

步骤4：运行已经连接好的各设备，并在示波器上选择千兆以太网测试项目进行测试。

测试模式4(发送信号波形失真测试)的配置方法：

步骤1：将待测设备、示波器、测试制具和电脑按上述连接方式连接；

步骤2：通过初始命令来获得物理层芯片寄存器9的初始值，具体为，在串口下输入命令sw port phyreg-get 0 0x09，其中0代表被测设备相应接口的编号，即被测接口0，0x09代表被测设备的寄存器9；

步骤3：通过如下步骤更改之前获得的物理层芯片寄存器9的初始值，得到修改后的数值：

1.假定读取到第0接口寄存器9的初始值为0xe00（十六进制数）；

2.通过运算将该十六进制数转换成16位二进制数，即为0000111000000000；

3.将其高三位对应数值进行修改，即物理层芯片寄存器9的第15、14、13位进行修改，其中，测试模式4对应的高三位数值为100，将之前的16位二进制数的高三位进行替换，即修改后的二进制数为1000111000000000；

4.将修改后的二进制数转换为4位十六进制数，即为0x8e00；

5.修改的命令为sw port phyreg-set 0 0x09 0x8e00；

步骤4：运行已经连接好的各设备，并在示波器上选择千兆以太网测试项目进行测试。

以上所述仅为本发明较佳的实施例，并非因此限制本发明的申请专利范围，所以凡运用本发明说明书及图示内容所作出的等效结构变化，均包含在本发明的保护范围内。