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公开/公告号CN110603435A
专利类型发明专利
公开/公告日2019-12-20
原文格式PDF
申请/专利权人 科磊股份有限公司;
申请/专利号CN201880030145.2
发明设计人 A·吉里纽;T·G·奇乌拉;
申请日2018-05-29
分类号
代理机构北京律盟知识产权代理有限责任公司;
代理人刘丽楠
地址 美国加利福尼亚州
入库时间 2024-02-19 18:13:15
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-06-26
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/20 申请日:20180529
实质审查的生效
2019-12-20
公开
机译: 用X射线散射法监测深层结构
机译: X射线散射法对深层结构进行过程监控
机译: 使用X射线散射仪对深层结构进行过程监控
机译:通过水热预处理对白杨木进行结构粗化,并通过定向样品上的X射线和中子的小角度和广角散射进行监测
机译:用X射线散射对闭环皮革工艺进行胶原结构的研究
机译:使用X射线技术对先进微电子工艺进行在线监测
机译:利用X射线发射光谱和共振非弹性X射线散射对Act系材料系统进行软X射线同步辐射研究
机译:通过X射线散射进行聚合物和聚合物液晶的结构研究,通过偏振光显微镜进行的热分析和椭偏分析。
机译:巴黎-爱丁堡电解槽的静液压低压力应用利用聚合物垫片进行X射线散射散射测量
机译:巴黎-爱丁堡电解槽的静液压低压力应用,利用聚合物垫片进行X射线散射散射测量
机译:利用FEL辐射进行软X射线散射,用于在几个电子伏特温度下探测近固体密度等离子体