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扫描超声波显微镜同时测量薄层材料机械特性参数的方法

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摘要

本发明公开了一种扫描超声波显微镜同时测量薄层材料机械特性参数的方法。其步骤包括：1)将薄层材料放置于基体材料表面，使超声波探头分别位于基体材料和薄层材料正上方，令超声波探头作上下运动并测得基体材料和薄层材料的超声波回波信号

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2019-12-06

未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B17/02 授权公告日:20150520 终止日期:20181211 申请日:20121211

专利权的终止
2015-05-20

授权

授权
2013-05-08

实质审查的生效 IPC(主分类):G01B17/02 申请日:20121211

实质审查的生效
2013-04-10

公开

公开

1. 扫描超声波显微镜同时测量薄层材料机械特性参数的方法 [P] . 中国专利： CN103033153B . 2015.05.20
2. 扫描超声波显微镜同时测量薄层材料机械特性参数的方法 [P] . 中国专利： CN103033153A . 2013-04-10
3. Method and device for determining the properties of polarization of light emitted by means of a material, is reflected or transmitted, by the use of a laser - scan - microscope [P] . 德国专利： DE60130356T2 . 2008-05-08

机译：通过激光-扫描-显微镜确定反射或透射通过材料发射的光的偏振特性的方法和装置
4. METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING THE POLARIZATION PROPERTIES OF LIGHT EMITTED, REFLECTED OR TRANSMITTED BY A MATERIAL USING A LASER SCANNING MICROSCOPE [P] . 欧洲知识产权局专利： EP1334339B1 . 2007-09-05

机译：用激光扫描显微镜测定材料发射，反射或透射的光的偏振特性的方法和装置
5. METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING THE POLARIZATION PROPERTIES OF LIGHT EMITTED, REFLECTED OR TRANSMITTED BY A MATERIAL USING A LASER SCANNING MICROSCOPE [P] . 欧洲知识产权局专利： EP1334339B8 . 2007-12-26

机译：用激光扫描显微镜测定材料发射，反射或透射的光的偏振特性的方法和装置