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MgZnO纳米线阵列紫外光电探测器

摘要

MgZnO纳米线阵列紫外光电探测器,采用双温区化学气相沉积方法制备MgZnO纳米线阵列,由此获得MgZnO纳米线阵列紫外光电探测器,其响应度高于现有MgZnO纳米线紫外光电探测器,属于半导体光电技术领域。本发明之MgZnO纳米线阵列紫外光电探测器下电极位于硅衬底背面,MgZnO纳米线分布在硅衬底正面,上电极位于MgZnO纳米线上面,并与MgZnO纳米线欧姆接触,其特征在于,所述MgZnO纳米线竖直等高、整齐分布,构成MgZnO纳米线阵列。本发明用于环境污染监控、火焰光电探测、紫外预警以及通讯等领域。

著录项

  • 公开/公告号CN102881762A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-01-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 长春理工大学;

    申请/专利号CN201210395263.8

  • 申请日2012-10-17

  • 分类号H01L31/108;H01L31/0352;B82Y15/00;

  • 代理机构长春菁华专利商标代理事务所;

  • 代理人陶尊新

  • 地址 130022 吉林省长春市朝阳区卫星路7989号

  • 入库时间 2024-02-19 17:18:13

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-08-26

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L31/108 申请公布日:20130116 申请日:20121017

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2013-02-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L31/108 申请日:20121017

    实质审查的生效

  • 2013-01-16

    公开

    公开

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