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芯片设计中修复时序违例的方法及系统

摘要

本发明公开了芯片设计中修复时序违例的方法及系统,涉及集成电路设计技术领域。所方法包括步骤:从时序违例的路径中选取目标修复路径,抓取目标修复路径上所有的基本单元和其对应的延时值并进行排序,根据排序依次选取其中的基本单元作为目标单元;判断前述违例是建立时间违例还是保持时间违例,基于不影响其他时序路径的规则对目标单元进行依次替换,获取满足要求的修复操作;将修复操作转换为布局布线工具能够识别的操作命令,并在布局布线工具上执行上述操作,验证上述操作后的时序分析结果满足时序要求的情况下结束修复。本发明进行时序违例修复时无需重新布局布线,能够快速迭代实现时序的收敛。

著录项

  • 公开/公告号CN110598235A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-12-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 眸芯科技(上海)有限公司;

    申请/专利号CN201910551840.X

  • 发明设计人 吴帅帅;郑立青;

    申请日2019-06-25

  • 分类号G06F17/50(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 201210 上海市浦东新区自由贸易试验区纳贤路800号1幢507室

  • 入库时间 2024-02-19 17:04:01

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-01-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20190625

    实质审查的生效

  • 2019-12-20

    公开

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