机译:集成电路的时序故障修复装置,集成电路的时序故障诊断装置,集成电路的时序故障诊断方法,集成电路的时序,故障诊断方法,计算机可读记录的正确性,以及记录的数据是否正确中等记录后,用于集成电路的定时故障修复程序
公开/公告号US2008104467A1
专利类型
公开/公告日2008-05-01
原文格式PDF
申请/专利权人 YOSHIHIKO SATSUKAWA;
申请/专利号US20070843032
发明设计人 YOSHIHIKO SATSUKAWA;
申请日2007-08-22
分类号G06F11/22;
国家 US
入库时间 2022-08-21 20:12:44