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一种COF基板的新冲孔式样和曝光对位MARK设计方法

摘要

本发明提供一种COF基板的新冲孔式样和曝光对位MARK设计方法,涉及COF基板曝光技术领域。该COF基板的新冲孔式样和曝光对位MARK设计方法,包括以下步骤:S1、准备绝缘基材,在绝缘基材的单面通过溅镀法或电解电镀法形成铜导体层,绝缘基材和铜导体层组成COF基材,S2、在COF基材上进行冲孔,冲出多个方孔与shot间通孔,在现有的基础上,在两个方孔之间加入一个圆孔,该圆孔为新的曝光对位MARK。通过将现有的方孔改为方孔加圆孔的模式,可以在最小限度改变生产线,控制变更成本的前提下,提高曝光的准确性和效率,由此,减少因曝光位置偏移引起的过曝和漏曝问题,提高产品良率和经济效益。

著录项

  • 公开/公告号CN110632831A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-12-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 江苏上达电子有限公司;

    申请/专利号CN201911114679.6

  • 申请日2019-11-14

  • 分类号

  • 代理机构北京化育知识产权代理有限公司;

  • 代理人尹均利

  • 地址 221300 江苏省徐州市邳州市经济开发区辽河路北侧、华山路西侧

  • 入库时间 2024-02-19 16:49:45

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-01-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G03F9/00 申请日:20191114

    实质审查的生效

  • 2019-12-31

    公开

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