随机硬件故障的概率度量

摘要

公开一种用于确定包括元件和安全机制(SM)的诸如微控制器的电子系统的随机硬件故障的概率度量的方法。安全机制包括第一层安全机制(FL‑SM)和第二层安全机制(SL‑SM)。第一层安全机制可以提供部件故障的至少部分覆盖，且第二层安全机制可以提供第一层安全机制的故障的至少部分覆盖。该方法包括计算与第一层安全机制相关联的第一概率集合(KSM_D)，计算与部件中的直接违例故障相关联的第二概率集合(KDvF_n)，以及计算与部件中的间接违例故障相关联的第三概率集合(KrvF_n)。该方法包括依赖于第一概率集合、第二概率集合和第三概率集合获得随机硬件故障的概率度量的值。