导致表面缺陷的异常定位方法、装置、系统及电子设备

摘要

本发明实施例提供了一种导致表面缺陷的异常定位方法、装置、系统及电子设备，导致表面缺陷的异常定位方法包括：获取待检测图像的缺陷检测结果，其中，缺陷检测结果包括待检测图像中的缺陷统计信息，待检测图像为图像采集设备拍摄的包括检测对象的图像；获取与缺陷统计信息匹配的待分析图像；对待分析图像进行检测分析，确定出与缺陷统计信息关联的异常信息，其中，异常信息包括异常位置信息。通过本方案，可以准确定位导致表面缺陷的异常。