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检查系统以及检查系统的故障分析和预知方法

摘要

检查装置(100)具有:探测器(200),其具有用于保持形成有多个器件的基板(W)的载置台(26)、将基板(W)搬送到载置台(26)的搬送部(22)以及使多个探针(25a)与基板(W)上的多个器件的电极接触的探针卡(25);测试器(300),其经由探针卡(25)将向基板(W)上的多个器件提供电信号,来检查器件的电气特性;以及故障分析和预知处理部(400),在进行检查时发生了故障的情况下、或发生了故障的前阶段的征兆时,该故障分析和预知处理部(400)对与该故障相关联的探测器(200)及测试器(300)的历史记录信息进行分析,来掌握或预知故障的部位。

著录项

  • 公开/公告号CN110383443A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-10-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 东京毅力科创株式会社;

    申请/专利号CN201880015384.0

  • 发明设计人 加贺美徹也;

    申请日2018-01-30

  • 分类号

  • 代理机构北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人刘新宇

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2024-02-19 15:48:45

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-11-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/66 申请日:20180130

    实质审查的生效

  • 2019-10-25

    公开

    公开

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