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一种基于圆光栅径向剪切干涉仪的三维位移测量方法

摘要

本发明涉及一种基于圆光栅径向剪切干涉仪的三维位移测量方法。现有的基于莫尔条纹方法的三维位移测量过程中需要移动探测器,无法实现瞬时测量,并且会引入探测器位置误差。本发明采用的装置包括圆光栅径向剪切干涉仪、半圆环形的空间滤波器和二维图像探测器。首先,利用半圆环形空间滤波器在径向剪切干涉仪的频谱面上对1级频谱的一半进行滤波,二维图像探测器位于径向剪切干涉仪的成像面上,可以同时获得+1和‑1衍射级次的莫尔条纹图像。然后,对莫尔条纹图像进行坐标变换、去噪、二值化、细化处理,获得亮条纹骨架图。最后,利用亮条纹的位置关系,反演出三维位移分量。该方法具有瞬时测量、精度高、适应性强等优点,较好地解决了三维位移的实时测量问题。

著录项

  • 公开/公告号CN110608677A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-12-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安工业大学;

    申请/专利号CN201911003526.4

  • 申请日2019-10-22

  • 分类号G01B11/02(20060101);

  • 代理机构61114 西安新思维专利商标事务所有限公司;

  • 代理人黄秦芳

  • 地址 710032 陕西省西安市未央区学府中路2号

  • 入库时间 2024-02-19 15:35:03

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-01-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/02 申请日:20191022

    实质审查的生效

  • 2019-12-24

    公开

    公开

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