使用中场天线方向图测试天线阵列的方法和系统

摘要

本发明提供了一种使用探测天线来测试DUT的天线阵列的方法，所述天线阵列包括多个天线元件。所述方法包括提供校正表，所述校正表包括来自天线阵列的远场中的不同位置的远场天线方向图和来自天线阵列的中场中的位置的中场天线方向图之间的差值的预定校正数据，其中中场满足天线阵列的近场标准并满足天线阵列中每个天线元件的远场标准；测量天线阵列中场中第一位置的天线方向图；从校正表中检索与位于天线阵列的远场中的第二位置相对应的预定校正数据；以及通过增加检索的预定校正数据来将测量的天线方向图平移到远场。