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一种基于机器视觉的LED芯片外观缺陷检测方法及系统

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本发明公开了一种基于机器视觉的LED芯片外观缺陷检测方法及系统，首先采集LED芯片图像；然后对LED芯片图像进行去燥平滑预处理，并进行单颗LED芯片的分割；接着支持向量机分类模型训练；最后利用训练好的支持向量机分类模型检测出外观有缺陷的LED芯片。本发明可使LED芯片外观缺陷检测工序实现自动化，提高缺陷检测的检测效率、检测准确率及检测一致性，最终提高LED芯片产品质量。

著录项

公开/公告号CN110349125A

专利类型发明专利
公开/公告日2019-10-18

原文格式PDF
申请/专利权人武汉大学;
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申请/专利号CN201910519660.3
发明设计人周圣军;万勇康;单忠频;徐浩浩;
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申请日2019-06-17
分类号G06T7/00(20170101);G06T7/12(20170101);G06T7/136(20170101);G06T5/00(20060101);G06K9/62(20060101);G01N21/95(20060101);G01N21/956(20060101);G01N21/88(20060101);
代理机构42222 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙);
代理人魏波
地址 430072 湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学
入库时间 2024-02-19 14:58:18

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2019-11-12

实质审查的生效 IPC(主分类):G06T7/00 申请日:20190617

实质审查的生效
2019-10-18

公开

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