首页> 中国专利> 制造包括用于向掩埋层提供低电阻接触的注入区的半导体器件的方法和相关器件

制造包括用于向掩埋层提供低电阻接触的注入区的半导体器件的方法和相关器件

摘要

制造半导体器件的方法包括:形成具有第一掺杂剂浓度的第一导电类型的第一半导体层;以及在第一半导体层上形成第二半导体层。第二半导体层具有小于第一掺杂剂浓度的第二掺杂剂浓度。将离子注入第二半导体层,以便形成贯穿第二半导体层以接触第一半导体层的第一导电类型的注入区。第一电极在第二半导体层的注入区上形成,以及第二电极在第二半导体层的非注入区上形成。还论述了相关器件。

著录项

  • 公开/公告号CN101611473B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-09-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 克里公司;

    申请/专利号CN200780049403.3

  • 发明设计人 S·T·舍帕德;A·V·苏沃罗夫;

    申请日2007-11-01

  • 分类号

  • 代理机构中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人汤春龙

  • 地址 美国北卡罗来纳州

  • 入库时间 2022-08-23 09:11:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-09-05

    授权

    授权

  • 2010-02-17

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-12-23

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号