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一种基于增量绝对光栅尺的绝对位移检测方法

摘要

本发明公开了一种基于增量绝对光栅尺的绝对位移检测方法,包括:通过在增量式光栅尺上做标记,使其转变为一种增量绝对光栅尺,保证每条栅纹的唯一性;采集光栅图像并去噪,提取光栅尺的栅纹,建立深度学习的神经网络模型,训练每一道栅纹,保存训练后的神经网络模型;建立位移检测的数学模型,采集待检测位移的光栅尺的图像并利用训练好的神经网络模型进行栅纹识别,将识别出的栅纹号反馈给数学模型,以计算位移检测值。本发明将增量式光栅尺转变为增量绝对光栅尺,位移的测量方法是通过增量方式实现绝对光栅尺的功能,并且,大幅降低了光栅尺制造精度。

著录项

  • 公开/公告号CN110260795A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-09-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 广东工业大学;

    申请/专利号CN201910468567.4

  • 申请日2019-05-31

  • 分类号G01B11/02(20060101);

  • 代理机构44329 广东广信君达律师事务所;

  • 代理人杨晓松

  • 地址 510062 广东省广州市大学城外环西路100号

  • 入库时间 2024-02-19 13:58:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-10-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/02 申请日:20190531

    实质审查的生效

  • 2019-09-20

    公开

    公开

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