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一种基于反问题的一维声子晶体带隙设计方法

摘要

本发明公开了一种基于反问题的一维声子晶体带隙设计方法,首先建立一维声子晶体带隙设计模型,该模型两个组元为主。对这种一维二组元模型结合声传递理论和能带理论,进行分析,得到波矢k与频率f之间的色散关系,即能带结构计算公式;再利用步长计算法,得出波矢k与结构参数a色散关系图,进而计算声子晶体的带隙特性。本发明适合工程实际中的应用,即从反问题角度,以带隙为已知量,从带隙所对应的频率出发,设计层状复合结构的物理参数与结构参数。鉴于层状复合结构涉及的物理因素与结构因素参数很多,因此,从反问题角度的研究,可以先固定物理因素,以结构参数为变量来研究一维声子晶体带隙设计方法,及研究结构参数与带隙的关系。

著录项

  • 公开/公告号CN110232239A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-09-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中原工学院;

    申请/专利号CN201910503114.0

  • 发明设计人 张振国;谢康佳;

    申请日2019-06-11

  • 分类号

  • 代理机构郑州优盾知识产权代理有限公司;

  • 代理人谢萍

  • 地址 451191 河南省郑州市新郑双湖经济技术开发区淮河路1号

  • 入库时间 2024-02-19 13:13:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-10-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20190611

    实质审查的生效

  • 2019-09-13

    公开

    公开

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