一种高速光电探测器相位响应一致性的测量装置及方法

摘要

本发明公开了一种高速光电探测器相位响应一致性的测量装置及方法。该测量装置包括窄线宽激光器，强度型电光调制器，单模光纤耦合器，可调光衰减器，电动光纤延迟线，待测高速光电探测器，射频开关和矢量网络分析仪。本发明利用微波光子技术，通过电光调制器将微波信号加载到光波上，利用可调光衰减器和电动光纤延迟线将待测的多条链路之间的延迟进行精准匹配，利用矢量网络分析仪分析微波信号的位相变化来实现高速光电探测器相位响应一致性的测量。本发明的测量方法具有极佳的抗环境干扰能力，操作简单，无需复杂的数学计算，测量速度快，测量精度高，并且不受环境因素影响等优点非常适合于工业现场测量。