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一种硅基MEMS闪耀光栅的制备方法

摘要

本发明涉及一种硅基MEMS闪耀光栅的制备方法,属于半导体加工技术领域,基于单晶硅的各向异性湿法腐蚀特性,通过将N型(111)硅片按特定切偏角(即闪耀角)进行切割,采用两次光刻腐蚀的方法,利用硅的慢腐蚀面(111)面相交形成闪耀光栅。采用本发明的方法制备硅基MEMS闪耀光栅,可以有效减小光栅顶部平台,改善闪耀光栅的形貌,提高光栅的衍射效率,实现任意闪耀角闪耀光栅的制备;同时还具有精度高、易集成、成本低、重复性好、适合批量生产等优点,制备得到的硅基MEMS闪耀光栅可广泛应用于各类光谱分析仪器中。

著录项

  • 公开/公告号CN110082847A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-08-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 重庆大学;

    申请/专利号CN201910357433.5

  • 申请日2019-04-29

  • 分类号G02B5/18(20060101);

  • 代理机构11275 北京同恒源知识产权代理有限公司;

  • 代理人赵荣之

  • 地址 400044 重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号

  • 入库时间 2024-02-19 12:18:13

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-08-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02B5/18 申请日:20190429

    实质审查的生效

  • 2019-08-02

    公开

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