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一种测定单层二硫化钼弯曲刚度的分子动力学方法

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本发明提供了一种测定单层二硫化钼弯曲刚度的分子动力学方法，属于计算二维纳米材料技术领域。首先建立所需尺寸的单层二硫化钼分子的平板结构模型，然后通过坐标映射的方法，将该尺寸的平板结构映射成不同曲率的管状结构模型，然后对其施加环向约束，以保证其构型约束在映射后固有的曲率下，通过分子动力学模拟统计出该模型在不同曲率下的应变能密度，并做出应变能密度与曲率平方曲线图，取其曲率小于0.1nm

著录项

公开/公告号CN110010207A

专利类型发明专利
公开/公告日2019-07-12

原文格式PDF
申请/专利权人大连理工大学;
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申请/专利号CN201910276587.1
发明设计人李东;叶宏飞;
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申请日2019-04-08
分类号
代理机构大连理工大学专利中心;
代理人温福雪
地址 116024 辽宁省大连市甘井子区凌工路2号
入库时间 2024-02-19 12:18:13

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2019-08-06

实质审查的生效 IPC(主分类):G16C10/00 申请日:20190408

实质审查的生效
2019-07-12

公开

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