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一种相位测量方法及相位测量装置

摘要

本发明涉及通信授时领域,提供了一种相位测量方法及相位测量装置。其中,所述相位测量方法通过设置有至少两路整形电路的整形模块对被测源的信号进行整形;轮询各路被测源经过整形后的输出信号,并通过所述输出信号上升沿或下降沿的变化触发选择有效的整形电路的输出信号作为被测源信号;计算所述被测源信号对应的频率值,并输出所述被测源信号对应的1PPS信号;选择一路被测源信号对应的1PPS信号作为主对比源,将其余被测源信号对应的1PPS信号分别与所述主对比源比较得出相位差,实现测试环境搭建简单、设备精简、成本较低且提升工作效率。

著录项

  • 公开/公告号CN110082593A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-08-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳市英特瑞半导体科技有限公司;

    申请/专利号CN201810074178.9

  • 发明设计人 刘梓轩;邱文才;张辉;

    申请日2018-01-25

  • 分类号

  • 代理机构深圳市六加知识产权代理有限公司;

  • 代理人曲卫涛

  • 地址 518054 广东省深圳市南山区粤海街道科智西路5号园西工业区25栋2段411室

  • 入库时间 2024-02-19 12:13:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-08-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R25/00 申请日:20180125

    实质审查的生效

  • 2019-08-02

    公开

    公开

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