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基于单因素方差分析选择高光谱波长的分类方法及装置

摘要

本发明提供了一种基于单因素方差分析选择高光谱波长的分类方法及装置,属于图像处理和光谱学技术领域。该基于单因素方差分析选择高光谱波长的分类方法,包括:采集待分类样本的高光谱图像;对样本的高光谱图像进行图像处理,得到样本的光谱信息;采用标准正态变量变换对样本的光谱信息进行矫正;采用单因素方差分析计算样本的光谱信息中的特征波长;从矫正后的样本的光谱信息中提取特征波长对应的样本的光谱信息;将特征波长对应的样本的光谱信息划分为训练集、验证集以及测试集三部分;根据样本的光谱信息训练集和验证集得到样本分类器;采用样本分类器对样本的光谱信息测试集进行分类。本发明可以提高分类的准确率,减少分类的建模时间。

著录项

  • 公开/公告号CN110020679A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-07-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院半导体研究所;

    申请/专利号CN201910228430.1

  • 申请日2019-03-25

  • 分类号G06K9/62(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人李佳

  • 地址 100083 北京市海淀区清华东路甲35号

  • 入库时间 2024-02-19 11:46:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-08-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06K9/62 申请日:20190325

    实质审查的生效

  • 2019-07-16

    公开

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