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基于深层离子注入方式的PIN二极管抗位移辐照加固方法

摘要

本发明一种基于深层离子注入方式的PIN二极管抗位移辐照加固方法涉及半导体器件领域,目的是为了克服PIN二极管受空间辐照效应,导致本征区的载流子被辐射缺陷俘获造成正向特性的退化的问题,具体方法为:步骤一、通过PIN二极管的结构参数和需注入PIN二极管的离子类型,计算离子注入所述PIN二极管的离子注入深度D和与离子注入深度D所对应的离子能量E;步骤二、计算离子注入量Ф;步骤三、通过所述离子能量E计算离子源电压值V;步骤四、通过所述离子注入量Ф确定离子注入时间t,并计算离子束电流值I;步骤五、根据所述离子注入深度D、离子源电压值V、离子束电流值I和离子注入时间t,向PIN二极管的本征区注入离子。

著录项

  • 公开/公告号CN109888025A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-06-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工业大学;

    申请/专利号CN201910219155.7

  • 申请日2019-03-21

  • 分类号H01L29/868(20060101);H01L21/04(20060101);H01L21/336(20060101);

  • 代理机构23109 哈尔滨市松花江专利商标事务所;

  • 代理人宋诗非

  • 地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

  • 入库时间 2024-02-19 11:32:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-01-07

    著录事项变更 IPC(主分类):H01L29/868 变更前: 变更后: 申请日:20190321

    著录事项变更

  • 2019-07-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/868 申请日:20190321

    实质审查的生效

  • 2019-06-14

    公开

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