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一种锗硅HBT的发射极窗口刻蚀方法

摘要

本发明公开了一种锗硅HBT的发射极窗口刻蚀方法,包含如下的工艺步骤:第1步,在完成锗硅外延淀积之后,再淀积一层氧化硅;2步,进行牺牲发射极窗口的氮化硅淀积;第3步,牺牲发射极窗口的氮化硅刻蚀;第4步,进行选择性锗硅外基区的生长;第5步,完成锗硅外基区的刻蚀之后,去除牺牲发射极窗口内的氮化硅。本发明所述的锗硅HBT的发射极窗口刻蚀方法,通过将牺牲发射极窗口多晶硅替换为氮化硅,大大简化了工艺流程,同时在后续去除该牺牲层时也不会造成残留问题,并形成更好的器件形貌。

著录项

  • 公开/公告号CN109860046A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-06-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华虹宏力半导体制造有限公司;

    申请/专利号CN201910014717.4

  • 发明设计人 陈曦;黄景丰;

    申请日2019-01-08

  • 分类号

  • 代理机构上海浦一知识产权代理有限公司;

  • 代理人戴广志

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号

  • 入库时间 2024-02-19 11:09:28

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-07-02

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/331 申请日:20190108

    实质审查的生效

  • 2019-06-07

    公开

    公开

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