公开/公告号CN109860046A
专利类型发明专利
公开/公告日2019-06-07
原文格式PDF
申请/专利权人 上海华虹宏力半导体制造有限公司;
申请/专利号CN201910014717.4
申请日2019-01-08
分类号
代理机构上海浦一知识产权代理有限公司;
代理人戴广志
地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
入库时间 2024-02-19 11:09:28
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2019-07-02
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/331 申请日:20190108
实质审查的生效
2019-06-07
公开
公开
机译: 在生产与双极晶体管的非本征基极自对准的发射极时使用的多晶硅层刻蚀工艺涉及停止在锗或硅锗中间层上或之中的等离子体刻蚀,以形成凹槽
机译: 硅锗hbt中多晶硅锗的独立控制方法及相关结构
机译: 硅锗hbt中多晶硅锗的独立控制方法及相关结构