基于DMD计算全息扫描的全自动化TCSPC-FLIM系统和时间检测方法

摘要

本发明公开了基于DMD计算全息扫描的全自动化TCSPC‑FLIM系统和时间检测方法。连续激光器在宽场条件下激发样品产生荧光，SCMOS将获取的样品荧光信息传递至计算机，计算机通过计算和处理，获取荧光图像的位置及强度信息，并选择性生成感兴趣区域对应的DMD二维全息图分布，同时控制DMD镜片组实现选择性光激励。DMD在计算机的控制下可将源自第一激光器的激光通过光镜组，消色散系统，DMD等传输至样品，激发样品实现FLIM。本发明将DMD应用于全自动化TCSPC‑FLIM系统中，采用DMD作为扫描器，并加入自动选择光路系统，可根据用户定义、选择，实现全自动化荧光寿命显微成像。基于本发明的光路系统极大地增加了成像扫描速度并实现选择性光激励，可有效改善荧光微弱区域的荧光成像。