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半导体晶圆加工系统及加工半导体晶圆的方法

摘要

本申请实施例提供一种半导体晶圆加工系统及加工半导体晶圆的方法。半导体晶圆加工系统包括沿一长轴延伸的一加工腔。半导体晶圆加工系统还包括位于加工腔内的一绝缘组件。半导体晶圆加工系统也包括位于加工腔内并沿平行长轴的方向延伸的一喷气管。喷气管包括一加工区段,且多个喷气孔形成于加工区段内。另外,半导体晶圆加工系统包括连结加工腔的一排气端。半导体晶圆加工系统还包括设置于绝缘组件上并位于喷气管与排气端之间的一晶舟。晶舟包括配置用于乘载多个半导体晶圆的多个槽状结构。位于加工区段内的排气孔对齐槽状结构设置。

著录项

  • 公开/公告号CN109817545A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-05-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 台湾积体电路制造股份有限公司;

    申请/专利号CN201711172514.5

  • 发明设计人 苏奕龙;廖见桂;李荣伟;

    申请日2017-11-22

  • 分类号H01L21/67(20060101);

  • 代理机构72003 隆天知识产权代理有限公司;

  • 代理人李昕巍;章侃铱

  • 地址 中国台湾新竹市

  • 入库时间 2024-02-19 10:46:47

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-06-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/67 申请日:20171122

    实质审查的生效

  • 2019-05-28

    公开

    公开

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