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一种顺序式波长色散X射线荧光光谱智能分析方法

摘要

本发明公开了一种顺序式波长色散X射线荧光光谱智能分析方法,使用智能分析技术对顺序式波长色散X荧光光谱(XRF)数据进行分析处理。首先对标准样本和待测样本的X射线荧光光谱数据进行去重叠和干扰修正,得到校正后的元素含量数据;然后对获取的标准已知样本的X射线荧光光谱数据,使用适合于稀疏数据的谱聚类方法进行训练和自动聚类;最后分析处理待测样本的X射线荧光光谱数据,使用SVM算法对待测样本予以分类。针对目前国内顺序式波长色散X荧光光谱领域的图谱分析自动化技术相关研究的空白和缺失,本发明能在很大程度上减少XRF分析中的人工干预,从而极大提高了对XRF数据的分析和处理效率,对光谱仪的自动化有着十分重要的意义。

著录项

  • 公开/公告号CN109829513A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-05-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉大学;

    申请/专利号CN201910160301.3

  • 发明设计人 李元香;高晶;

    申请日2019-03-04

  • 分类号

  • 代理机构武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人魏波

  • 地址 430072 湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学

  • 入库时间 2024-02-19 10:28:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-06-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06K9/62 申请日:20190304

    实质审查的生效

  • 2019-05-31

    公开

    公开

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