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一种基于CMM扫描测量的自由曲面轮廓度评价方法

摘要

本发明公开一种基于CMM扫描测量的自由曲面轮廓度评价方法,包括以下步骤:(1)利用扫描式三坐标测量机得到被测件的原始测点数据集,计算原始测点数据集内的点与被测件设计模型表面之间的偏差,并绘制偏差曲线;(2)利用小波分解将偏差曲线分解成三部分,提取出关键点;(3)根据自由曲面轮廓误差的数学模型,使用SQP算法对关键点进行定位,并优化变换矩阵T中的六个参数,获得定位关键点集;(4)用曲面分割法计算定位关键点和被测件设计模型表面之间的偏差,根据他们的最大偏差得到轮廓误差。该方法利用小波分解从偏差曲线中提取关键点来简化计算过程,再利用SQP算法对关键点进行定位并用曲面分割法计算定位关键点和模型表面之间的偏差。

著录项

  • 公开/公告号CN109635518A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-04-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津大学;

    申请/专利号CN201910074547.9

  • 申请日2019-01-25

  • 分类号G06F17/50(20060101);G06F17/16(20060101);G06F17/14(20060101);G01B21/20(20060101);

  • 代理机构12201 天津市北洋有限责任专利代理事务所;

  • 代理人刘子文

  • 地址 300350 天津市津南区海河教育园雅观路135号天津大学北洋园校区

  • 入库时间 2024-02-19 10:02:02

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-05-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20190125

    实质审查的生效

  • 2019-04-16

    公开

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