用于检测集成电路中的差分故障分析攻击和对衬底的减薄的方法以及相关集成电路

摘要

集成电路包括具有背面的半导体衬底。衬底内的第一半导体阱包括电路部件。衬底内的第二半导体阱与第一半导体阱和衬底的其余部分绝缘。第二半导体阱提供了检测设备，该检测设备是可配置的并且被设计为在第一配置中检测经由衬底的背面对衬底的减薄，并且在第二配置中检测通过向集成电路中的故障注入而进行的DFA攻击。