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一种受激发射损耗显微镜的成像系统

摘要

本发明公开了一种受激发射损耗显微镜的成像系统,包括损耗光单元、激发光单元、成像单元与计数器单元,损耗光单元产生环形损耗光并控制环形损耗光的光强和偏振,激发光单元被损耗光单元触发后发出高斯型激发光,高斯型激发光经过第三格兰棱镜分为第一高斯型激发光与第二高斯型激发光,环形损耗光与第一高斯型激发光重叠后输入成像单元,成像单元对样品进行扫描成像并收集荧光信号。第二高斯型激发光作为参考信号,与荧光信号一并进入计数器单元,用于荧光强度成像和荧光寿命成像。当施加较低的环形损耗光能量时,样品的荧光寿命随着激光照射时间而增加,增加的荧光寿命降低了荧光样品的饱和强度,进而可以实现成像分辨率的进一步提高。

著录项

  • 公开/公告号CN109633881A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-04-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳大学;

    申请/专利号CN201910009315.5

  • 发明设计人 严伟;屈军乐;王璐玮;叶彤;

    申请日2019-01-04

  • 分类号G02B21/00(20060101);G01N21/64(20060101);

  • 代理机构44312 深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙);

  • 代理人袁文英

  • 地址 518060 广东省深圳市南山区南海大道3688号

  • 入库时间 2024-02-19 09:44:24

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-05-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02B21/00 申请日:20190104

    实质审查的生效

  • 2019-04-16

    公开

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