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用于测试集成电路及包含所述集成电路的电路板的测试系统、方法

摘要

一种测试系统包含减法器及除法器。所述减法器经配置以接收正测试的电路的第一电压及所述电路的第二电压,且导出所述第一电压与所述第二电压之间的差。所述除法器经配置以接收所述第一电压与所述第二电压之间的所述差,且通过将(i)所述第一电压与所述第二电压之间的所述差除以(ii)施加到所述电路的第一电流与施加到所述电路的第二电流之间的差,导出所述电路的电阻。所述第一电压对应于所述第一电流,且所述第二电压对应于所述第二电流。

著录项

  • 公开/公告号CN109765469A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-05-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 日月光半导体制造股份有限公司;

    申请/专利号CN201711070993.X

  • 发明设计人 张佑榕;廖纬凯;林明庆;曾奎皓;

    申请日2017-11-03

  • 分类号G01R31/26(20140101);

  • 代理机构11287 北京律盟知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人蕭輔寬

  • 地址 中国台湾高雄市楠梓加工区经三路26号

  • 入库时间 2024-02-19 09:44:24

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-06-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/26 申请日:20171103

    实质审查的生效

  • 2019-05-17

    公开

    公开

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