公开/公告号CN109765469A
专利类型发明专利
公开/公告日2019-05-17
原文格式PDF
申请/专利权人 日月光半导体制造股份有限公司;
申请/专利号CN201711070993.X
申请日2017-11-03
分类号G01R31/26(20140101);
代理机构11287 北京律盟知识产权代理有限责任公司;
代理人蕭輔寬
地址 中国台湾高雄市楠梓加工区经三路26号
入库时间 2024-02-19 09:44:24
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2019-06-11
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/26 申请日:20171103
实质审查的生效
2019-05-17
公开
公开
机译: 集成电路,测试系统和用于从所述集成电路中读取错误数据的方法
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