一种保证多晶硅片或类单晶硅片质量稳定性的方法

摘要

本发明公开一种保证多晶硅片或类单晶硅片质量稳定性的方法，其特征在于包括如下步骤：步骤一：测试晶砖一侧面少子寿命情况；步骤二：根据所述侧面少子寿命情况，将晶砖截断得到尾料、可切片晶砖、头料、杂质层；步骤三：测试头料下截断面的少子寿命情况；步骤四：根据头料下截断面少子寿命情况，把可切片晶砖划分为不同等级进行返截。本发明成本低，实施简便，能有效保证硅片的质量，提高生产效率。