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任意形状小孔平均电极化率密度的解析方法、设备及介质

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本发明公开了任意形状小孔平均电极化率密度的解析方法、设备及介质，所述方法包括：根据导电屏上待解析小孔的轮廓建立基于极坐标的轮廓函数ρ(θ)，将待解析小孔的几何重心设为极坐标的原点；反复用半径为ρ(θ

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公开/公告号CN109657357A

专利类型发明专利
公开/公告日2019-04-19

原文格式PDF
申请/专利权人广州广电计量检测股份有限公司;广州广电计量检测(上海)有限公司;
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申请/专利号CN201811567110.0
发明设计人刘洪颐;
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申请日2018-12-19
分类号
代理机构广州三环专利商标代理有限公司;
代理人颜希文
地址 510630 广东省广州市天河区黄埔大道西平云路163号
入库时间 2024-02-19 09:26:47

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2019-05-14

实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20181219

实质审查的生效
2019-04-19

公开

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