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基于开口矩形波导的介质复介电常数无损反射测量方法

摘要

本发明属于微波无损测量领域,提供一种基于开口矩形波导的介质复介电常数无损反射测量方法;本发明采用将待测介质板远离辐射口径面的方式,减弱待测介质板复介电常数以及尺寸的变化对波导辐射口径面不连续处的高次模反射场分布的影响,在特定距离范围内可认定高次模反射场分布近似不变,进而通过对已知介电常数介质板反射系数的测量,实现对单模分析方法误差的校准,本发明仅仅考虑波导辐射口径面主模传输就能够得到准确的结果,计算过程更加简单,大大减少运算量;且由于开口矩形波导无需紧贴待测介质,也可实现介质复介电常数的非接触测量,有着更加广阔的应用前景。

著录项

  • 公开/公告号CN109669075A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-04-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201910071878.7

  • 申请日2019-01-25

  • 分类号G01R27/26(20060101);

  • 代理机构51203 电子科技大学专利中心;

  • 代理人甘茂

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2024-02-19 08:37:57

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-05-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R27/26 申请日:20190125

    实质审查的生效

  • 2019-04-23

    公开

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