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開放端同軸プローブによるスカラ反射係数に基づいた複素誘電率及び複素透磁率の非破壊同時測定法

机译:端部同轴探针基于标量反射系数的复介电常数和复磁导率的无损同时测量方法

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摘要

フランジ付き開放端同軸プローブに基づいた高損失材料の複素誘電率と複素透磁率の同時測定技術は非破壊測定方法の一つとして注目されている.しかし,この方法において,同軸プローブと測定試料との密着が必須であり,試料表面の粗さによるプローブと試料表面の間の非常に小さな空気すき間が存在すると,複素材料定数の測定に大きな影響を与える.本論文では,従来の複素材料定数を同時に測定するための「(ベクトル反射係数に基づいた)膜厚変化法」は誤差の大きい位相特性も必要である不利な点を改善するため,より高いロバスト性をもつ「スカラ反射係数(振幅)に基づいた膜厚変化法」を提案し,検討している.実験とシミュレーションにより,提案した手法の有効性及び妥当性を検証した.
机译:作为一种无损测量方法,基于带法兰的开放式同轴探针的同时测量高损耗材料的复介电常数和复磁导率引起了人们的关注。这是必不可少的,由于样品表面的粗糙度,在探头和样品表面之间存在很小的气隙会对复合材料常数的测量产生重大影响。用于同时测量的“厚度变化方法(基于矢量反射系数)”具有更鲁棒的“标量反射系数(振幅)”,以改善其还需要具有大误差的相位特性的缺点。在此基础上提出并研究了一种改变膜厚的方法,并通过实验和仿真验证了该方法的有效性和有效性。

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