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一种断层扫描平面重现的方法及装置

摘要

本发明公开了一种断层扫描平面重现的方法及装置,该方法包括获取断层扫描数据,断层扫描数据包括多个断层扫描平面,从多个断层扫描平面中确定目标扫描平面,根据多个断层扫描平面、半球模型和标准平面,确定目标扫描平面所在的象限,标准平面是根据空间中任意四个点或任意三个点确定的,半球模型为以标准平面为底面且任意半径的球体的一半,在目标扫描平面所在的象限内,确定标准平面与目标扫描平面的位置关系,根据标准平面与目标扫描平面的位置关系,复现多个断层扫描平面。通过多个断层扫描平面、半球模型和标准平面,可以得到标准平面与目标扫描平面的位置关系,实现重现多个断层扫描平面,从而实现一种准确、简便、经济的定位方式。

著录项

  • 公开/公告号CN109146992A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-01-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 吴玉新;

    申请/专利号CN201810970688.4

  • 发明设计人 吴玉新;

    申请日2018-08-24

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 200125 上海市浦东新区华绣路393号

  • 入库时间 2024-02-19 08:24:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-01-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T11/00 申请日:20180824

    实质审查的生效

  • 2019-01-04

    公开

    公开

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