一种多瞬态故障影响下的纳米集成电路可靠性评估方法

摘要

本发明提供了一种多瞬态故障影响下的纳米集成电路可靠性评估方法，包括：第一步骤：建立待评估纳米集成电路的电路可靠度计算公式；第二步骤：确定可靠度计算公式中的零故障直流分量参数值；第三步骤：通过对待评估纳米集成电路进行单故障模拟以评估电路可靠度计算公式中的一阶主分量；第四步骤：对待评估纳米集成电路进行双故障模拟；第五步骤：对双故障模拟得到的数据进行概率统计分析，以评估电路可靠度计算公式中的二阶分量。