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螺旋偏振光场的偏振参数检测方法

摘要

本发明涉及一种螺旋偏振光场的偏振参数检测方法,基于矢量光场聚焦原理,将振幅调制和相位调制相结合,将被检测光束的横向光强分布调制成空心高斯强度分布,把被检测光束的波前相位分布调制成径向余弦演化的相位分布,将调控过的螺旋偏振光场经过光学系统进行聚焦,利用光电探测器检测焦点区域轴上光强分布,利用矢量光场聚焦特性,根据焦点移动量计算出表征螺旋偏振光场整体偏振态分布分偏振参数具体数值。方法简单、流程简洁、可以检测螺旋偏振光场、灵敏度高、可实现偏振态物理参数测量、灵活性强、功能易于扩充、抗干扰性强等特点。

著录项

  • 公开/公告号CN109141642A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-01-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海理工大学;

    申请/专利号CN201810979668.3

  • 发明设计人 陈书行;王胜峰;钟秋婵;高秀敏;

    申请日2018-08-27

  • 分类号

  • 代理机构上海申汇专利代理有限公司;

  • 代理人徐颖

  • 地址 200093 上海市杨浦区军工路516号

  • 入库时间 2024-02-19 07:41:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-03-17

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01J4/00 申请公布日:20190104 申请日:20180827

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2019-01-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J4/00 申请日:20180827

    实质审查的生效

  • 2019-01-04

    公开

    公开

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