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一种基于异步延时法的颗粒动态轨迹测量系统及方法

摘要

本发明提供一种基于异步延时法的颗粒动态轨迹测量系统及方法,涉及测量技术领域。片激光光源光照介质溶液被测平面中悬浮的示踪粒子,示踪粒子散射的光投影到半透半反棱镜,分解为反射像和透射像,反射像和透射像被CCD相机Ⅰ和CCD相机Ⅱ连续交替拍摄,形成一个时间序列的成像为示踪粒子颗粒的拖影轨迹图,用MATLAB软件和基于Otsu算法的动态灰度阈值,提取序列示踪粒子颗粒的拖影轨迹图中的颗粒运动轨迹,按时间序列进行加法运算得到完整的示踪粒子颗粒动态轨迹。本发明解决了现有技术中PIV测量设备价格昂贵、测量分析软件复杂的技术问题。本发明有益效果为:降低了PIV测量技术的成本,降低了系统搭建和使用的难度。算法简单,保证测量精度。

著录项

  • 公开/公告号CN109141811A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-01-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国计量大学;

    申请/专利号CN201810930108.9

  • 申请日2018-08-15

  • 分类号G01M10/00(20060101);

  • 代理机构33109 杭州杭诚专利事务所有限公司;

  • 代理人尉伟敏

  • 地址 317500 浙江省台州市温岭市城西街道九龙大道1025号

  • 入库时间 2024-02-19 07:41:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-01-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M10/00 申请日:20180815

    实质审查的生效

  • 2019-01-04

    公开

    公开

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