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温度测试装置、温度测试系统及温度测试方法

摘要

本发明公开了一种温度测试装置、温度测试系统及温度测试方法,属于电路板设计领域。该温度测试装置包括:承载基台、承载支架、温度检测器和移动组件。该承载基台被配置为承载待测测的PCB,该承载支架的第一端与承载基台固定连接,第二端可以承载有温度检测器。该移动组件被配置为:在该PCB进行工作时,带动承载支架20的第二端移动,以使温度检测器对PCB上的各个待检测器件的工作温度进行检测。通过该温度测试装置可以实现对PCB上的各个待检测器件的工作温度进行自动检测,有效的提高了对PCB进行检测的检测效率。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-02-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J5/00 申请日:20181030

    实质审查的生效

  • 2019-01-18

    公开

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