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TEMPERATURE TEST DEVICE, AND TEMPERATURE TEST METHOD

机译:温度测试装置和温度测试方法

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a temperature test device of performing test by increasing only the temperature of an atmosphere in the vicinity of a module of a test object of electronic equipment.;SOLUTION: The temperature test device has: a casing provided with a blowing route between a suction inlet and an exhaust outlet; a first blower arranged in the neighborhood of the suction inlet; a second blower arranged in the neighborhood of the exhaust outlet; a test means for performing evaluation test to the test object module arranged at a position neared to the first flower in the casing; and a heat source device for giving heat air to the first blower of the test means.;COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT
机译:解决的问题:提供一种仅通过增加电子设备的测试对象的模块附近的气氛的温度来进行测试的温度测试设备。解决方案:温度测试设备具有:外壳,其具有吸气口和排气口之间的吹气路径;布置在吸入口附近的第一鼓风机;设置在排气口附近的第二鼓风机;测试装置,用于对布置在壳体中靠近第一朵花的位置处的测试对象模块进行评估测试; ;热源装置,用于向测试装置的第一台鼓风机供热。

著录项

  • 公开/公告号JP2009047600A

    专利类型

  • 公开/公告日2009-03-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FUJITSU LTD;

    申请/专利号JP20070215003

  • 发明设计人 SONE SHUNSUKE;YAMANISHI HIROKAZU;

    申请日2007-08-21

  • 分类号G01R31/26;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 19:40:01

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