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低能扫描电子显微镜系统、扫描电子显微镜系统及样品探测方法

摘要

本发明公开了一种低能扫描电子显微镜系统,包括:电子源,用于产生电子束;电子加速结构,用于增加所述电子束的运动速度;复合物镜,用于对经所述电子加速结构加速的电子束进行汇聚;偏转装置,用于改变所述电子束的运动方向;探测装置,包括用于接收电子束作用于样品上产生的二次电子和背散射电子的第一子探测装置、用于接收所述背散射电子的第二子探测装置、以及用于改变所述二次电子和所述背散射电子的运动方向的控制装置;电透镜,包括第二子探测装置、样品台和控制电极,用于减小所述电子束的运动速度,并改变所述二次电子和所述背散射电子的运动方向。本发明还公开了扫描电子显微镜物镜系统及样品探测方法。

著录项

  • 公开/公告号CN109300759A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-02-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 聚束科技(北京)有限公司;

    申请/专利号CN201811250972.0

  • 发明设计人 李帅;何伟;

    申请日2018-10-25

  • 分类号

  • 代理机构北京派特恩知识产权代理有限公司;

  • 代理人王军红

  • 地址 100176 北京市大兴区经济技术开发区永昌北路3号3幢8101-A单元

  • 入库时间 2024-02-19 07:24:19

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-07-31

    授权

    授权

  • 2019-03-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01J37/145 申请日:20181025

    实质审查的生效

  • 2019-02-01

    公开

    公开

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