机译:绝缘基材扫描电子显微镜扫描电子显微镜充电效应的系统研究
Univ Bergen Dept Phys &
Technol Allegaten 55 N-5020 Bergen Norway;
Ecole Normale Super Lyon Lyon France;
Univ Bergen Dept Phys &
Technol Allegaten 55 N-5020 Bergen Norway;
Charging effect; measurement error; nanostructures; secondary electron detector; SEM;
机译:绝缘基材扫描电子显微镜扫描电子显微镜充电效应的系统研究
机译:使用绝缘材料通过扫描电子显微镜增强纳米结构的检测
机译:电荷对绝缘材料的扫描电子显微镜-能量色散X射线光谱分析的影响
机译:低压扫描电子显微镜显示纳米结构薄金属膜中的等离子体增强的电子散射
机译:通过扫描隧道显微镜研究了半导体和金属纳米结构中的单电子和多电子现象。
机译:通过扫描声学显微镜扫描电子显微镜能量色散X射线光谱法和电感耦合等离子体发射光谱法检查枪声中的金属动员:病例报告
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