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具备复合式探测系统的扫描电子显微镜和样品探测方法

摘要

本发明实施例提供了一种具备复合式探测系统的扫描电子显微镜和样品探测方法,所述扫描电子显微镜包括:由浸没式磁透镜和电透镜组成的复合式物镜系统,用于将初始电子束聚焦到样品上形成会聚的束斑;位于所述复合式物镜系统中的复合式探测系统,以及探测信号放大和分析系统;浸没式磁透镜的磁场浸没到样品上;所述电透镜用于聚焦和减速初始电子束到样品上,以及将BSE从X射线的发射路径上分离;所述复合式探测系统位于所述浸没式磁透镜的内极靴的下方,且位于控制电极的上方,由同轴心的环形BSE探测器和环形X射线探测器组成;所述轴心为电子源所产生的电子束的主光轴中心;所述BSE探测器位于内圈,X射线探测器位于外圈。

著录项

  • 公开/公告号CN110376229B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-09-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 聚束科技(北京)有限公司;

    申请/专利号CN201910507143.4

  • 发明设计人 李帅;

    申请日2019-06-12

  • 分类号G01N23/203(20060101);G01N23/2206(20180101);G01N23/2252(20180101);G01N23/201(20180101);G01N23/20008(20180101);H01J37/28(20060101);H01J37/26(20060101);

  • 代理机构11270 北京派特恩知识产权代理有限公司;

  • 代理人李梅香;张颖玲

  • 地址 100176 北京市大兴区经济技术开发区永昌北路3号3幢8101-A单元

  • 入库时间 2022-08-23 11:12:47

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