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一种微小漏率正压漏孔校准的气体取样系统及方法

摘要

本发明一种微小漏率正压漏孔校准的气体取样系统及方法,包括分子泵抽气系统、氦气瓶、氮气瓶、气体采样阀门、气体取样室、气体膨胀室、气体累积室、第一第二真空计、第一至第七真空阀门及恒温箱;分子泵抽气系统通过第一真空阀门、且氦气瓶的出气口与第二真空阀门的一端连接,其另一端通过气体取样室与气体采样阀门入口连接且出口通过第四、第三真空阀门与分子泵抽气系统连接,并分别与第二真空计、第五第六第七真空阀门的一端连接;第五真空阀门的另一端与气体膨胀室相连接,且第六真空阀门另一端通过气体累积室与被校正压漏孔连接;第七真空阀门另一端与质谱分析系统连接。本发明缩短了示漏气体累积时间、减小了示漏气体累积和取样精度的影响。

著录项

  • 公开/公告号CN109443653A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-03-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京东方计量测试研究所;

    申请/专利号CN201811431861.X

  • 申请日2018-11-28

  • 分类号G01M3/20(20060101);

  • 代理机构11650 北京善任知识产权代理有限公司;

  • 代理人王大方;金杨

  • 地址 100083 北京市海淀区知春路82号院

  • 入库时间 2024-02-19 06:57:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-02

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M3/20 申请日:20181128

    实质审查的生效

  • 2019-03-08

    公开

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