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公开/公告号CN109390232A
专利类型发明专利
公开/公告日2019-02-26
原文格式PDF
申请/专利权人 天津环鑫科技发展有限公司;
申请/专利号CN201710669336.0
发明设计人 董子旭;王彦君;孙晨光;徐长坡;王万礼;刘晓芳;刘闯;张晋英;刘文彬;李子科;杜晓辉;武鹏;张建;赵杨;乔笑徽;张俊芳;
申请日2017-08-08
分类号
代理机构天津诺德知识产权代理事务所(特殊普通合伙);
代理人栾志超
地址 300384 天津市西青区华苑产业区(环外)海泰东路12号A座二层
入库时间 2024-02-19 06:57:17
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2019-03-22
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/329 申请日:20170808
实质审查的生效
2019-02-26
公开
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机译: 简化一次一次性接触沟槽刻蚀的肖特基二极管集成MOSFET的方法
机译:高能反掺杂沟槽底部注入技术改进沟槽MOS势垒肖特基整流器
机译:通过反掺杂沟槽底部注入形成的沟槽MOS势垒肖特基整流器
机译:宽沟槽刻蚀提高4H-SiC结势垒肖特基二极管的电流密度
机译:沟槽深度不均匀的沟槽肖特基整流器
机译:硅中聚合物沉积控制的沟槽刻蚀的仿真。
机译:木材微沟槽表面上多酚金属绿色涂料的配位驱动受控组装:稳定超疏水性的新方法
机译:阳极沟槽几何对AlGan / GaN肖特基屏障二极管电学性能的影响
机译:使用pREsTO-II(浅层沟槽操作的辐射效应的预测)方法和规范评估拟建的浅滩埋葬地点。