用于在样本中的多个位置询问参数的系统和方法

摘要

一种用于在样本（108）中的多个位置询问参数的系统（100）包括第一和第二超快激光源（102、104）、参考装置（110）以及检测器和处理器单元（124、128）。第一和第二超快激光源（102、104）在皮秒时域或更低时域中分别提供第一和第二多个脉冲以与样本在样本（108）中的多个位置进行交互，以提供经处理脉冲。此外，将第一和第二超快激光源（102和104）配置成分别提供具有第一和第二重复率的梳频率。将检测器单元（124）配置成检测经处理脉冲的至少一部分、第二多个脉冲、和参考的脉冲。将处理器单元（128）配置成处理所检测的脉冲并且提供针对样本（108）中的多个位置的参数的测量。