机译:使用高能X射线衍射测量堆叠式系统中LSI芯片的无损翘曲
机译:使用基于同步加速器的微束X射线衍射对硅通孔中的铜残余应力进行无损测量
机译:在高温下通过原位摇摆曲线X射线衍射测量来确定嵌入式硅芯片的曲率
机译:一种新的X射线衍射,基于包装硅的完全应力状态映射的技术
机译:集成电路封装的翘曲预测。
机译:嵌入集成电路封装的硅芯片翘曲的无损X射线衍射测量
机译:基于实验室的无损X射线衍射图,分析了嵌入IC封装的Si芯片中的翘曲
机译:通过X射线衍射对残余应力和强制应力进行无损测量II:飞机问题的一些应用