首页> 外文OA文献 >Practical Use of Tacit Knowledge of DANKAI-Generation Engineers -An analysis of tacit knowledge in semiconductor reliability field-
【2h】

Practical Use of Tacit Knowledge of DANKAI-Generation Engineers -An analysis of tacit knowledge in semiconductor reliability field-

机译:DANKAI代工程师的默认知识的实际运用-半导体可靠性领域的默认知识分析-

摘要

高知工科大学博士(学術) 平成21年9月30日授与 (甲第169号)
机译:高知工业大学博士(学术),2009年9月30日授予(Koh 169号)

著录项

  • 作者

    宮本 和俊;

  • 作者单位
  • 年度 2009
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 ja
  • 中图分类

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号