首页> 外文OA文献 >ლაზერული რამან-სპექტროსკოპიით A 3B 5 და A2B6 ტიპის ზოგიერთი ნახევარგამტარის ფუნდამენტური ოპტიკური თვისებების გამოკვლევა და იონური იმპლანტაციის ზეგავლენა მათ რამან-სპექტრებზე
【2h】

ლაზერული რამან-სპექტროსკოპიით A 3B 5 და A2B6 ტიპის ზოგიერთი ნახევარგამტარის ფუნდამენტური ოპტიკური თვისებების გამოკვლევა და იონური იმპლანტაციის ზეგავლენა მათ რამან-სპექტრებზე

机译:通过激光拉曼光谱检查某些A3B 5和A2B6型半导体的基本光学性质以及离子注入对其拉曼光谱的影响

摘要

შესავალი–– თავი 1. ლიტერატურული მიმოხილვა–– თავი 2. ლაზერული რამან-სპექტროსკოპიისა და გამოსხივების მყარ სხეულებთან ურთიერთმოქმედების მოკლე თეორიული საფუძვლები–– თავი 3. ლაზერული სისტემების ხელსაწყოთმშენებლობის განვითარების ეტაპები და თანამედროვე ასპექტები–– თავი 4. ლაზერული რამან-სისტემების კონსტრუქციები–– მათი პრაქტიკული გამოყენების შესაძლებლობები და პერსპექტივები–– 4.1ლაბორატორიული ტიპის ლაზერული რამან-სისტემის კონსტრუქცია სპექტრის ხილულ არეში ამგზნები ლაზერების გამოყენებით–– 4.2 რამანის გაბნევისა და ფოტოლუმინესცენციის ასაგზნებად ჩვენს მიერ გამოყენებული ლაბორატორიული ტიპის ლაზერების კონსტრუქციების გამოყენების ზოგადი კრიტერიუმები–– 4.3 ლაბორატორიული ტიპის არგონისა და კრიპტონის გაზის ლაზერების ჩვენეული კონსტრუქციები–– 4.4 ინფრაწითელი ლაზერული რამან-სპექტრომეტრის რამანის სპექტრების ამგზნები იწ-ლაზერი ძოწის კრისტალზე–– YAG:Nd+ –– 4.5 ლაბორატორიული ტიპის ინფრაწითელი ლაზერული რამან-სისტემა–– შექმნილი საქართველოში პირველად–– თავი 5. ნახევარგამტარული მასალებისათვის ფონონების იდენტიფიკაცია- კლასიფიკაცია–– ლოკალური და ხვრელისმიერი რხევების კონცეფცია და მათი შესწავლა ზოგიერთ ნახევარგამტარში–– 5.1 ნახევარგამტარებში ფონონების კლასიფიკაციისა და მინარევების ლოკალური და ხვრელისმიერი რხევების პრინციპები–– 5.2 კინოვარის–– a-HgS პირველი რიგის ფონონების იდენტიფიკაცია-კლასიფიკაცია–– 5.3 სელენის იზომორფული მინარევის ხვრელისმიერი რხევის იდენტიფიკაცია კინოვარში–– a-HgS–– 5.4 GaP-ში დარიშხანის ხვრელისმიერი და ალუმინის ლოკალური რხევების რამან-სპექტრები–– 5.5 ბუნებრივი მინერალების - რეალგარისა და აურიპიგმენტის ლაზერული რამან-სპექტრები–– თავი 6. ნახევარგამტარული შერეული კრისტალების ტიპები–– თეორიული მოდელები და მათი ექსპერიმენტული გამოკვლევა ლაზერული რამან-სპექტროსკოპიით–– 6.1 ფონონების ყოფა-ქცევის მიხედვით შერეული კრისტალების ტიპებად დაყოფის თეორიული მოდელები–– 6.2 შერეული ეპიტაქსიალური ფირების–– GaAsP–– ლაზერული რამან-სპექტროსკოპი–– 6.3 შერეული კრისტალების–– ZnTexSe1-x ლაზერული რამან-სპექტროსკოპია–– 6.4 შერეული ეპიტაქსიალური ფირების–– GaxAl1-xP ლაზერული რამან-სპექტროსკოპია–– თავი 7. რეზონანსული რამანის გაბნევის შესწავლა განსხვავებული სტრუქტურის–– ზონური აღნაგობისა და შემადგენლობის ნახევარგამტარებში–– 7.1 ნახევარგამტარების რეზონანსული რამანის გაბნევის მოკლე თეორია–– 7.2 არაპირდაპირზონიანი ნახევარგამტარების a-HgS და GaP რეზონანსული რამან-სპექტროსკოპია–– 7.3. პირდაპირზონიანი შერეული ნახევარგამტარული კრისტალების–– Zn Te1-xSex რეზონანსული რამან-სპექტროსკოპია––თავი 8. ლაზერული რამან-სპექტროსკოპიის გამოყენება იონური იმპლანტაციით მოდიფიცირებული ნახევარგამტარული ზედაპირების მონიტორინგის მიზნით–– 8.1 ბორისა და არგონის იონების იმპლანტაციით მოდიფიცირებული GaP-ს კრისტალური მესერის რხევითი დინამიკის შესწავლა ლაზერული რამან-სპექტროსკოპიით–– 8.2 ბორითა და არგონით იმპლანტირებული GaAs ლაზერული რამან-სპექტროსკოპია–– 8.3 იონური იმპლანტაციით სინთეზირებული სამმაგი შერეული კრისტალების–– GaAsxP1-x და GaxAl1-xAs–– ლაზერული რამან-სპექტროსკოპია–– ძირითადი დასკვნები–– ლიტერატურა
机译:None

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号